Изложены методические основы различных видов патентных исследований. Описаны такие виды патентных исследований, как установление требований к промышленной продукции, анализ тенденций развития объекта техники, анализ условий конкуренции, отбор наиболее эффективных изобретений из мирового патентного фонда для использования в НИОКР. Приведен пример проведения патентных исследований в отношении Российской Федерации. Для работников патентных подразделений НИИ и предприятий, разработчиков новой техники, слушателей вузов, в которых преподаются основы патентоведения.